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掃描電子顯微鏡
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澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過(guò)程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化
澤攸ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、集成式oxford能譜儀,同時(shí)滿足形貌觀測(cè)及元素分析需求。
ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過(guò)程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化產(chǎn)品介紹ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。原位拉伸臺(tái)參數(shù)載荷范圍:0-1000N位移分辨率:2
ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡 ZEM Ultra臺(tái)式掃描電子顯微鏡,繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng),不僅具有快速成像、全自動(dòng)操作等特點(diǎn),還具備出色的抗震性和穩(wěn)定性。
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-原位拉伸一體機(jī)基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過(guò)程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化。
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能,體積小巧,操作簡(jiǎn)便,安裝無(wú)需特殊環(huán)境,只需找一張桌子,供電即可工作。
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