共探國產電鏡未來┃澤攸科技亮相2023全國電子顯微學學術年會

大會設置了多個分會場，內容涵蓋顯微學理論、技術和儀器發(fā)展，以及功能材料微結構表征等前沿領域。多家國內外高新技術企業(yè)應邀出席會議，其中，澤攸科技攜最新研發(fā)的臺式掃描電鏡ZEM20亮相展示，受到與會代表的熱烈關注。

展會期間，澤攸科技研發(fā)工程師在展位上向參展的專家和學者介紹了ZEM系列臺式掃描電鏡的創(chuàng)新之處及應用場景，獲得廣泛好評。ZEM系列電鏡在分辨率、成像速度、自動化程度等方面都有顯著提升，可廣泛應用于材料、生命科學等領域的表面形貌及組分分析。此外，ZEM系列電鏡還可選擇配置能譜分析儀，實現(xiàn)對樣品元素、結構等信息的快速、精確檢測。

本次學術年會展示了國內電子顯微學領域的潛力，其中國產電鏡及其配件企業(yè)的數(shù)量和規(guī)模不斷壯大，這表明中國電子顯微學儀器的自主創(chuàng)新能力不斷提升，國產電鏡有望取代進口產品，逐步走到行業(yè)前臺。澤攸科技作為國內少數(shù)能夠實現(xiàn)科研儀器反向輸出的企業(yè)之一，象征著國產電鏡制造業(yè)的崛起，同時也顯示出中國在電子顯微學領域的雄心壯志。未來，澤攸科技將繼續(xù)致力于電子顯微學領域的發(fā)展，為中國的科研事業(yè)和產業(yè)進步貢獻更多力量。